甘肅高溫低溫老化試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
甘肅高溫低溫老化試驗箱的用途：
甘肅高溫低溫老化試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
甘肅高溫低溫老化試驗箱的結(jié)構(gòu)特征：
1、內(nèi)壁：進口SUS304不銹鋼
2、外殼：冷軋板靜電噴涂
3、保溫材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡或超細玻璃棉，具有保溫性有好等特點
4、密封：進口硅膠密封條
5、控溫濕方式：BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕
6、觸摸屏溫濕度控制儀，進口韓國觸摸屏，PID整定調(diào)節(jié)，0.1級精度，升溫、降溫、加濕、去濕獨立，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進行溫濕度試驗，有程序運行和恒定運行功能
7、加熱：不銹鋼翅片空氣加熱
8、加濕：淺槽蒸汽加濕
9、冷機：*全封閉壓縮機，機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)
10、設(shè)備供水凈化器
11、上電自動進水
12、對流系統(tǒng)：空調(diào)電機定制鋁風(fēng)葉
13、設(shè)備運行定時器
14、箱門中央設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈
15、全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)，主控制儀采用韓國進口觸摸屏溫濕度控制儀
甘肅高溫低溫老化試驗箱的產(chǎn)品型號規(guī)格：
型號 內(nèi)箱尺寸W*D*H（cm）
TH -80 40×50×40
TH-150 50×60×50
TH-225 60×75×50
TH-408 60×85×80
TH-800 100×100×80
TH-1000 100×100×100
甘肅高溫低溫老化試驗箱的主要技術(shù)指標：
1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃
2 、溫度波動度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：2～3℃/min
甘肅高溫低溫老化試驗箱設(shè)備的安全保護裝置：
1 、電源超載、控制回路過載、短路保護
2 、接地保護、電機過載保護
3 、超溫保護
4 、壓縮過壓、過載保護
5 、為保護設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
甘肅高溫低溫老化試驗箱的使用現(xiàn)場條件：
1．溫度：15℃~35℃
2．相對濕度：不大于85%RH
3．周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周圍無強烈氣流，當周圍空氣需要強制流時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7．試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8．試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。
9．安裝場地通風(fēng)良好
10．良好接地
甘肅高溫低溫老化試驗箱的服務(wù)：
1．提供設(shè)備的電氣原理圖、易耗件明細表、操作維護手冊等技術(shù)資料，并提供主要外購配套件的技術(shù)資料。
2．培訓(xùn)設(shè)備操作、維護人員，使其*掌握設(shè)備的操作技能和一般性的維修、保養(yǎng)技能。
3．自設(shè)備通過驗收之日起的1年內(nèi)，向買方提供免費的售后服務(wù)
4. （相關(guān)軟件及技術(shù)升級長期免費支持）包修期滿后提供有償服務(wù)。
甘肅高溫低溫老化試驗箱的安全保護裝置：
1.電源超載、短路保護
2.接地保護
3.超溫保護
4.壓縮過壓、過載保護
5.為保護設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
甘肅高溫低溫老化試驗箱設(shè)備是按照下列標準或其結(jié)合為依據(jù)而制造：
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
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:——陳
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